Investigation of the Behavior of Oxygen and Fluorine in CaO-SiO2 and CaO-SiO2-CaF2 Glasses by Raman Spectroscopy
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概要
大阪産業大学学会 | 論文
- RFマグネトロンスパッタ法にて作成したZnO:Al薄膜の電気的光学的性質
- 相変化形Ag-In-Te-Sb系光記録膜
- Ga-Se-Te-Ge系薄膜を用いた光メモリ素子
- Ga-Se-Te系薄膜を用いた光メモリ素子
- As-Se-Tl系半導体の電気的光学的性質と熱電発電素子への応用