30p-TF-4 飽和吸収分光法によるプラズマ中の銅準安定原子の寿命測定

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• 1995-03-28

論文 | ランダム

• 新しいDTMOS回路構造の動作評価
• しきい値電圧抽出方法の比較
• オフセットゲートMOSFETの回路モデル
• オフセットMOSFETの実効チャネル長の基板電圧依存性
• オフセットゲートを有するMOSFETの回路シミュレーションモデル

もっと見る

スポンサーリンク