29a-YH-2 ヘテロシード法により育成されたZnTe単結晶の評価
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 1998-03-28
論文 | ランダム
- 標準ロジックICμPD4000シリ-ズの信頼性 (ディジタルLSI特集) -- (信頼性技術)
- パワ-MOS FETの製品系列と信頼性 (電子デバイス特集) -- (パワ-デバイス)
- γ線照射による半導体部品の特性変化 (LSI特集)
- 樹脂封止CMOS ICの耐湿性 (LSI特集)
- Semiconducting Properties of Thallium Selenide