Picosecond Time-Resolved X-Ray Diffraction of a Photoexcited Silicon Crystal
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
Direct observation of the lattice dynamics of a photoexcited silicon crystal is performed by means of picosecond time-resolved X-ray diffraction. X-ray diffraction profiles from 300 ps laser-irradiated Si(111) are obtained at a time step of 50 ps. The results are in quantitative agreement with results of simulations based on dynamical diffraction theory, and are consistent with an interpretation based on acoustic wave propagation.
- 2002-03-15
論文 | ランダム
- P2083 静岡県における「職場復帰支援システム」の構築 : 運用に向けての準備
- 8 静岡産業保健推進センター方式「職場復帰支援システム」の紹介(第45回産業精神衛生研究会)
- 産業保健推進センターによる喫煙対策訪問支援事業の評価
- 静岡県の事業所における喫煙対策の実施状況と産業保健推進センターに求められている役割
- P176 騒音職場の聴力への影響とストレス度に関する調査研究