Cr-Lα線とAl-Kα線励起光電子回折法によるh-BN/Ni(111)の表面構造解析
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概要
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これまでにh-BN/Ni(111)は、LEED解析やSi-Ka線励起光電子回折法により、構造モデルが提案されているが、結果に基づく構造モデルにおいて下地および薄膜の位置関係に差異が見られる。本研究では、X線光電子回折法（XPED）を用いて、h-BN/Ni(111)の表面構造を明らかにすると共に、軽元素超薄膜に対して有効な解析手法に関する知見を得ることを目的とする。
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公益社団法人 日本表面科学会 | 論文
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