同時偏光撮像装置の開発
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概要
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天体の偏光度を求めるにはストークスパラメーターQとUを測定する必要がある。既存の偏光撮像装置では、Q、Uパラメーターを別々に測定するため、観測で得られる精度は望遠鏡のトラッキングエラーや大気の変化に影響されやすく、観測効率も悪い。そこで、本研究ではQ、Uパラメーターを同時に測定できる同時偏光撮像装置を開発し、精度の向上と観測の効率化を目指した。この装置は駆動部分なく、時間分解能がよいという特徴を持つ。2006年1月、西はりま天文台60cm望遠鏡に装置を取り付け、試験観測を行った。
- 日本惑星科学会の論文
日本惑星科学会 | 論文
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