摘出済み欠陥を考慮したレイリーモデルに基づくソフトウェア欠陥予測手法
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概要
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ソフトウェアの品質向上・確保に対する産業界の関心は高く、とくに、容易に収集可能なメトリクスを用いた精度の高い品質予測への期待が強い。Rayleighモデルはこうした期待に応えうる技法の１つであり、当該プロジェクトの欠陥摘出履歴に基づいた品質予測が行える。しかし、同モデルによる品質予測では、総欠陥数の予測値が摘出済み欠陥数を下回る場合があるなど運用上の課題があるが、過去の研究では十分に議論されていない。本研究では、同モデルによる品質予測に対して条件付き確率の概念を導入することで、総欠陥数が摘出済み欠陥数を下回る矛盾を解消する。また、本手法を実プロジェクトのデータに適用し、提案手法の有効性を評価する。
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