産業用高エネルギーX線CT装置へのCdTe化合物半導体センサの適用
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
A high sensitivity x-ray sensor has been developed for high energy industry Computed Tomography (CT) systems. By using a Cadmium Telluride (CdTe) semiconductor, the detection sensitivity was improved by about two times compared with a conventional Si sensor. Consequently, the statistics noise contained in the CT image was reduced favorably (by about 25%). The sensor was successfully used in the high energy industry CT system with an electron linear accelerator (LINAC), and the quality of the CT images increased. The CT system, equipped with the sensor, is considered to be suitable to use for the high density and thick objects.
- 一般社団法人 日本非破壊検査協会の論文
一般社団法人 日本非破壊検査協会 | 論文
- フーリエ級数係数を用いたパッシブ赤外線サーモグラフィによるコンクリートのはく離深さ評価
- 複数探触子を用いたTOFD法によるきずの位置と寸法の同定法
- 厚肉材に渦電流探傷法を適用するための新しい励磁手法の提唱
- 鋼板厚さ測定におけるパルス渦電流試験の解析と実験からの検討
- ログアンプとリニアアンプの併用による超音波探傷試験