キュウリ葉における水ストレスの非破壊計測に関する研究:―分光反射率，気孔コンダクタンス，PSII Yieldおよび形状の変化の比較―

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キュウリ葉の水ストレスを非破壊で検知するために，分光反射率，気孔コンダクタンスおよびクロロフィル蛍光パラメータの一つであるPSII Yield (ΦPSII)の計測を行い，また，萎れに伴う個体としての形状変化も加えて，これらの計測法の有効性を比較検討した．このとき，水ストレスの指標として，水ポテンシャルを用いたが，浸透ポテンシャルや圧ポテンシャル，乾物重あたりの含水量，水欠差および単位面積あたりの水分量などの指標とも比較した．その結果，水ストレスをうけた後，灌水により回復可能なキュウリ葉の水ポテンシャルは，おおよそ-1.5MPaまでであった．また，-0.3～-0.8MPaのあいだで，葉の気孔コンダクタンスや個体としての形状（葉の萎れ）が圧ポテンシャルの変化に伴って変化した．気孔コンダクタンスや萎れに比べて，ΦPSIIの水ストレスに対する影響は小さく，浸透ポテンシャルの変化が現れる-0.5MPa以下で，浸透ポテンシャルの低下に伴って変化した．一方，葉の分光反射率比については，葉がひどく枯れた状態である-7.0MPaまでの範囲では，水ポテンシャルとの相関関係があったが，回復可能な水ストレス状態である-1.2MPaまでの範囲では，ほとんど変化が認められなかった．
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