モンテカルロ法による散乱線を含んだX線スペクトルの計算

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概要

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• Medical Imaging and Information Sciencesの論文

著者

• 金森 仁志

  京都工繊大

• 中森 伸行

  京都工繊大

• 鳥居原 正晴

  京都工繊大

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• モンテカルロ法による散乱X線の解析 : 照射面積と一次線含有率
• 55.最大情報量撮影第3報(X線焦点のフーリエ解析1)
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• 直接型と間接型のフラットパネルディテクタの画像特性の比較
• 24pRC-10 CdTeにおけるコヒーレントフォノンの検出エネルギー依存性(24pRC 超高速現象,領域5(光物性))
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• 85 高分解能Schottky型CdTe半導体検出器を用いた診断用X線装置のスペクトル測定と補正(放射線管理 計測-2)(一般研究発表)(第32回秋季学術大会)
• 高分解能 Schottky CdTe 検出器を用いた診断領域X線スペクトルの測定とその補正
• CdZnTe半導体検出器を用いて測定した診断領域X線スペクトルの補正
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• 29aYE-8 GaAs/AlAs 多重量子井戸における励起子量子ビートとコヒーレント LO フォノンの結合 II
• 24aPS-53 CuI薄膜におけるコヒーレントTOフォノンの生成(領域5ポスターセッション,領域5(光物性))
• 25pWB-9 光カーゲート法を用いたZnO薄膜の時間分解発光スペクトル(II) : 励起エネルギー依存性(25pWB 励起子・ポラリトン・高密度励起,領域5(光物性))

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