近接2光束ピンセットによるマイクロ粒子断層像計測技術
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概要
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ミクロンオーダーの微粒子の内部構造を取得するために, 微粒子回転手法として近接2光束ピンセット方式を提案した. 本手法は光が吸収される際に発生する光圧力を利用することで, 微粒子の屈折率分布によらない回転力付与を可能としている. 本報告では, 微粒子の回転実験を行った結果につき述べる. また, 微粒子 (直径10 μm) の内部欠陥 (1 μm以下) 分布を観察することが可能となった.
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