Conduction mechanism and origin of stress‐induced leakage current in thin silicon dioxide films

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概要

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論文 | ランダム

• 電子計算機
• 計算機械 I
• 計算機械 II
• 23. 電子衝突による酸素の陰イオンの電離
• 128 電子衝突による水銀原子の内部電子励起について(第2囘(昭和22年度)年會)

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