Probing subpicosecond dynamics using pulsed laser combined scanning tunneling microscopy
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概要
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Time-resolved tunneling current measurement in the subpicosecond range was realized byultrashort-pulse laser combined scanning tunneling microscopy, using the shaken-pulse-pairmethod. A low-temperature-grown GaNxAs1−x (x=0.36%) sample exhibited two ultrafast transientprocesses in the time-resolved tunnel current signal, whose lifetimes were determined to be0.653±0.025 and 55.1±5.0 ps. These values are of the same order of magnitude as those measuredin the conventional pump–probe reflectivity measurement.
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