ソフトウェア開発属性データを用いたニューラルネットワークによる潜在フォールト数の予測(半導体と電子デバイスの信頼性,信頼性一般)
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概要
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ソフトウェア信頼性の定量的な評価を,その開発段階においてなるべく早期に,かつ精度よく行いたいという要望は自然なものである.本研究では,ソフトウェア開発の上流工程から採取された多変量データに対して,ニューラルネットワークを用いることで,そのソフトウェアに潜在しているであろうソフトウェアフォールト数を見積るモデルの性能評価を,既往の重回帰分析による研究結果と比較しながら実際のデータに基づいて行う.
- 2012-11-08
著者
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