非定常ポアソン過程の階層ベイズモデルに基づく計数データの信頼性解析(電子デバイスの信頼性,信頼性一般)
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概要
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計数データは,時間に依存した故障個数の履歴データなどを意味する.例えば,設備プラントやソフトウェアでは修理やデバグを繰返しており,これらでは計数データに基づいた解析が求められる.特に,信頼度成長の推測を目的とすることもあり,ソフトウェアのデバグ過程の予測などが一例である.故障時間のみを用いた信新性解析ではワイブル分布を用いることが多いが,故障数と故障までの時間を同時に扱い,かつ信頼度成長を推測する場合には確率過程モデルを用いることが基本となる.本報告では,非定常ポアソン過程モデルに着目する.特に,強度モデルにワイブル分布を想定することで時間依存の信頼度成長を想定し,さらに加速モデルを導入した階層ベイズによる複雑な故障モデルの構成を試みる.また,推定法として周辺尤度に基づいた経験ベイズ法を用い,さらに過去の経験に基づく事前分布の設定に基づいたベイズ推論も同時に構成する.ここでは,階層ベイズを構成しない非定常ポアソン過程の加速モデルも構成し,推定には最尤法およびマルコフ・チェイン・モンテカルロを用いたベイズ法の適用も扱う.さらに,これらのモデルおよび推定手法に関する選択をEICに基づいて行うことを提案する.
- 2011-11-11
著者
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