微細MOSデバイスのばらつき(招待講演,学生・若手研究会)
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概要
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本発表では、まず多岐にわたるMOSデバイスのばらつきの分類を試みる。次に、その中でも最近特に問題となっている「ランダムばらつき」について主に議論する。ランダムばらつきとは空間的に相関を持たないタイプのばらつきであって、デバイスの微細化にともなって急速に増加してきた。その原因についての最近の理解の状況と、ばらつきを減らすための方策について述べる。最後に、最近新たなばらつき問題として浮上しているRandom Telegraph Noiseについても触れる。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2010-12-09
著者
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