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一般報告(日本教育学会第69回大会報告)
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2011-03-31
論文 | ランダム
232 放射光を用いた TiAlN と TiN の単層, 2 層および積層膜の残留応力測定
プレゼンテーションの実施によるアウトカムズ評価の新しい試み
(63)卒業研究のプレゼンテーション評価(第17セッション 教育評価・自己点検・評価システム(II))
Cu/TiN二層膜のX線残留応力測定(X線材料強度)
232 Cu/W 繊維強化複合材料の内部応力評価
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