近赤外スペクトルによる道明寺粉デンプンの糊化・老化現象の観察
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概要
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近赤外分光法を用いて,道明寺粉デンプンの糊化・老化による分子構造の変化を調べた.加熱過程における近赤外スペクトルの変化の検討からは,加熱時間の増加にともない4770cm^<-1>にみられるデンプン由来のOH基に関連するバンド強度が弱くなる様子が観察された.これは,アミロペクチン分子の水和状態が道明寺粉の糊化とともに変化したためと考えられる.一方,充分に糊化した道明寺粉の冷却過程ではスペクトル変化は観察されず,アミロペクチンの老化が進んでいないことが示された.
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