高エネルギー放射光蛍光X線法による科学捜査のための自動車ガラスセラミックプリントの微量成分分析(<特集>安心と安全に役立つ分析化学)

概要

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本研究により,SPring-8の75.5keVのX線を励起光に用いる高エネルギー放射光蛍光X線分析が科学捜査のための自動車ガラスセラミックプリントの微細片の微量元素分析に対して極めて有効な手法であることが明らかになった.用いた試料は様々なメーカー・車種・年代の99種類の自動車ガラスセラミックプリントである.これらの試料の重元素主成分はPbかBiのいずれかであり,年式が新しくなるにつれて鉛フリー化のためPbからBiへ移行する傾向が確認できた.75.5keVの励起X線は,セラミックプリント片から比較的軽い元素であるV,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,Zr,Moだけでなく微量重元素であるSb,La,Ce,Hf,WをK線で検出することを可能にした.重元素主成分(Pb又はBi)で規格化された微量元素のX線強度は,0.5mm以下の微細なセラミックプリント片を特徴付ける指紋として使用することができた.各試料3片ずつを測定して得られた微量元素の規格化X線強度の平均相対標準偏差は,いずれも9.3%以下であった.自動車ガラスセラミックプリントは,異同識別のための多くの元素情報を含んでおり,科学捜査の重要な証拠資料となることが分かった.
2007-12-05