NISTの乱数検定に含まれる最長連検定の修正

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概要

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• 乱数性が良好であることが知られているブロック暗号DESが生成する乱数系列を,米国商務省標準技術局の乱数検定(NIST SP800-22)に含まれる最長連検定を利用して検定したとき,乱数系列のランダム性が棄却される結果が得られた.本稿では,NISTの最長連検定で使用されている最長連の出現確率が近似値であることを示す.次に,乱数の1系列の長さを100万ビットとする通常の入力では,精密な検定を行えないことを指摘する.最長連の出現確率を本稿で新たに導出した正確な値に変更し,乱数の1系列の長さを400万ビット以上にすれば,ランダム性が棄却されないようになることが分かった.DESの代わりにAESを使用したときも同様の結果が得られた.

• 社団法人電子情報通信学会の論文
• 2007-05-11

著者

• 濱野 健二

  東京大学大学院新領域創成科学研究科

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