434 任意応力分布を受ける深い表面き裂形状に対する応力拡大係数の評価(OS3-8 K値解析,OS3 エネルギー構造機器の健全性評価と信頼性の高度化3)
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概要
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- 社団法人日本機械学会の論文
- 2005-11-03
著者
-
安藤 柱
横浜国立大学工学研究院
-
安藤 柱
横浜国立大学
-
板谷 雅雄
(株)東芝
-
小川 和夫
(独)原子力安全基盤機構
-
小川 和夫
JNES
-
板谷 雅雄
東芝電力システム社
-
齋藤 利之
東芝電力システム社
-
小川 和夫
原子力安全基盤機構
-
齋藤 利之
(株)東芝
-
齋藤 利之
東芝
-
斎藤 利之
東芝
-
板谷 雅雄
東芝
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