周波数掃引計測器の周波数領域における解析
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概要
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Abstract One of measuring apparatuses using a sweep generator is a swept frequency measurement system (SF) and the other is a spectrum analyzer (SA). Though the appearance of SF differs substantially from that of SA at a glance, we clarified that the output signal of SF is quite same as that of SA if the device under test is a filter used in SF. The analysis by FFT is almost equivalent to the numerical analysis of differential equations in the meaning of time complexity. If only the frequency characteristics of a device under test can be measured, the method using FFT is superior to the numerical analysis of differential equations.
- 山形大学の論文
- 1984-01-20
著者
-
中津山 幹男
山形大学工学部電子情報工学科
-
水沼 充
山形大学
-
杉本 皆子
山形大学
-
中津山 幹男
工学部・電子工学科
-
水沼 充
工学部・電子工学科
-
杉本 皆子
工学部・電子工学科
-
杉本 皆子[他]
工学部・電子工学科
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