X線回折におけるペンデル振動を用いたシリコン結晶の歪の定量的解析

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概要

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• A practical quantitative analysis technique for long-range strain in silicon crystals observable by rotating specimen along the scattering vector in X-ray diffraction is proposed. Strain gradients cause the shrinkage of the period of Pendellosung oscillations. From the period of the oscillations, strains are estimated without any reference specimens.

• 大同工業大学の論文

著者

• 坂 貴

  電気電子工学科

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