多重内部反射型赤外吸収分光法を用いた有機デバイスの評価(有機材料,一般)
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概要
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有機電界効果トランジスタにおける酸素と光の効果を、多重内部反射型赤外吸収分光法および変位電流評価法を用いて評価した。赤外吸収分光法は有機半導体中の化学状態のin situ測定に適している。これらの手法を用いて、低分子のペンタセンおよび高分子のP3HTのドーピング現象を直接的に観測し、ドーピングによるキャリア生成機構とデバイス特性への影響を調べた。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2006-07-20
著者
-
石井 久夫
千葉大学先進科学研究教育センター
-
石井 久夫
東北大・通研
-
木村 康男
東北大学電気通信研究所
-
庭野 道夫
東北大学電気通信研究所
-
小川 賢
東北大学電気通信研究所ナノスピン実験施設
-
山本 学志
東北大学電気通信研究所 ナノスピン実験施設
-
庭野 道夫
東北大学大学院医工学研究科
-
石井 久夫
千葉大学先進科学センター
-
庭野 道夫
東北大学電気通信研究所ナノスピン実験施設
-
木村 康男
東北大学電気通信研究所ナノスピン実験施設
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