長い反例のみを持つ設計誤りに対する帰納的推論を用いた検証手法(システムオンシリコン設計技術並びにこれを活用したVLSI)
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概要
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本稿では、ハードウェアやソフトウェアの設計の検証に広く用いられている手法であるモデル検査を帰納的推論と組み合わせて適用することで、長い反例のみを持つ設計誤りを検証する手法を提案する。そのような設計誤りは初期状態から検証を行う従来のモデル検査手法では検証できない可能性が高い。そのため、まず初期状態からの到達可能性を考慮せずに検証を行う。次に設計誤りが発見された場合は記号シミュレーションによりそのバグの発生条件を求め、最後にその発生条件への到達可能性を判定する。手法の提案に加えて二つの例題に対する実鹸結果を示す。
- 2006-03-02
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