長期暴露試験によるアモルファス太陽電池の劣化傾向(その1)
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概要
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太陽電池を主要素子とした太陽光発電システムの実用化技術開発は20年前のオイルショックを契機に、通商産業省工業技術院のサンシャイン計画(現在はニューサンシャイン計画)の下で、21世紀のエネルギー源を確保するため、官民一体となって取り組まれてきた。その成果は数ワットの街路灯、時計塔及び交通標識等からMワットオーダの大規模太陽光発電所まで、様々な形態、規模で、着実に実りつゝある。このような技術背景のもとで、平成6年度、政府は太陽光発電システムの設置者に対し、1/2の補助金を出資すると言った太陽光発電システムの普及・導入策を打ち出している。いよいよ太陽エネルギーの時代到来を思わせるような状況になってきた。財団法人日本品質保証機構(Japan Qaulity Assurance Organization : JQAと略称している)は昭和55年度より新エネルギー・産業技術総合開発機構(NEDO)の委託を受けて、サンシャイン計画に基づく太陽光発電システム実用化技術開発の一環で、太陽電池評価システムの研究開発を行なっている。この太陽電池評価システムの研究開発は太陽電池セルの標準校正法及び太陽電池モジュール(以下、モジュールと略す。)の電気出力特性評価法に係る「性能評価法の開発」及びこのモジュールの耐候性、耐久性の評価に係る「信頼性評価法の開発」の2つのサブテーマを設定して行なっている。本稿は後者の信頼性評価法の開発において、各種モジュールの実用的な耐候性及び耐久性試験方法の研究開発を行なっていて、その中で、加速試験法の開発のため、アモルファス系モジュール(a-Siモジュールと略す。)の長期暴露試験が行なわれ、この実験研究で得られた劣化傾向について解説するものである。太陽光発電システムの実用化、普及のカギはモジュールの信頼性にあると云っても過言ではないであろう。現在、モジュールの耐用年数がオーソライズされていないため、太陽光発電システムのコスト評価がし難い状況にある。したがって、モジュールの信頼性評価法の開発は非常に意味のある研究テーマであるとともに、早急に確立しなければならない重要な課題にもなっている。太陽電池評価システムの研究開発は東京都世田谷区(6年12月に浜松市村櫛町<浜名湖に近接したところ>へ移転)で行なっているが、信頼性評価法の開発の一環で、実験研究を進めている長期暴露試験は、この世田谷区、北海道北見市、佐賀県鳥栖市及び沖縄県宮古島の4ヵ所に試験サイトを設置して、気象環境の異なる地域での長期暴露試験による各種モジュールの出力特性の挙動及び劣化モード等の地域差を究明する目的で行なっている。
- 1995-01-10
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