2-2 繰返し接触、挿抜試験における信頼性の高い接触抵抗測定システムの報告

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概要

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電子部品であるコネクタは、接触不良の報告を受け、原因を調査すべく、様々な追跡調査並びに確認実験を行っているが、接触不良現象が再現されないケースが多々ある。これは接触点が破壊されていたり、明らかに接触点が外観的観察で変化している場合には、原因調査は比較的容易であるが、接触抵抗が数オーム程度の変化の場合には、外観的に判別出来るような変化が捉えきれず、また次の接触時には正常な接触状態に戻ってしまい、結局は接触不良再現不能となり、異常が正しく認識されないケース等である。そこで本報告では、この様に、従来の整数回のインターバル測定では捉えきれなかったインターミッテントに起こる接触抵抗の変化を、今回開発・導入した全動作回数接触抵抗測定システム装置により、今まで見逃しがちであった接触抵抗変化現象を適確に捉え信頼性評価方法として有効な測定装置とすると共に測定の省力化と安定化を実現することが出来たので、以下に内容を記述する。
日本信頼性学会の論文
1999-11-01

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