Investigation of Time-Resolved X-Ray Diffraction Analysis in Smectic A Liquid Crystal Cells
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概要
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Time-resolved X-ray diffraction analysis of smectic A liquid crystal cells is investigated. Frequency and duty ratio dependence of smectic A layer motions is measured. From the experimental results, possible mechanisms of layer motions are discussed.
- 社団法人応用物理学会の論文
- 1996-10-15
著者
-
Shibata Miki
Department Of Electronics And Computer Science Toyama University
-
Shibata Miki
Department Of Electronic Engineering Toyama University
-
Okuda Hiroyuki
Department Of Mechanical Science And Engineering Graduate School Of Engineering Nagoya University
-
Okada H
Department Of Electronics And Computer Science Toyama University
-
Onnagawa Hiroyoshi
Department Of Electronics And Computer Science Toyama University
-
Onnagawa Hiroyoshi
Department Of Electric And Electronic Engineering Faculty Of Engineering Toyama University
-
Shibata Miki
Department of Electric and Electronic Engineering, Toyama University, 3190 Gofuku, Toyama 930-8555, Japan
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