一定の光量のときの半導体層の走査面積とビジコンの特性との関係 : R.Theile, F.Pilz : Abhangigkeit der Qualitatsparameter des Vidikon von der Rastergrosse auf der Halbleiterschicht bei gleichem Lichtstrom Rundfunktech, 5 No, 3(1961)108〜111
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概要
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- 社団法人映像情報メディア学会の論文
- 1961-10-01
社団法人映像情報メディア学会 | 論文
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