薄膜に対する電気光学係数測定の新手法(光機能有機材料・デバイス, 非線形現象, 一般)
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概要
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電場配向ポリマーの性能向上とデバイス化の研究がさかんに行われている。両者に対して電気光学係数測定法は重要な役割を担う。我々はマッハ・ツェンダー干渉計を利用した測定法を提案した。この手法はデータ解析と多重反射の扱いに大きな特徴がある。干渉縞と変調強度パターンから電気光学係数を算出する過程を工夫したので計算が簡単になり、加えて測定環境からの外乱などに対する耐性が向上した。また、多重反射の寄与を回避できる配置をとるので、測定手順を大幅に簡略化することができた。検証実験にはDR1を分散したPMMAのスピンコート膜を金とITO電極で挟んだサンプルを利用した。測定結果は過去の報告例と矛盾しないことが確認され、提案した測定法の実効性が示された。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2005-10-05
著者
-
和田 達夫
理化学研究所
-
梅垣 真祐
慶應義塾大学理工学研究科
-
佐々 高史
理研
-
和田 達夫
理研
-
佐々 高史
理化学研究所 超分子科学研究室
-
劉 欣毅
慶應義塾大学理工学部
-
岩村 朋
慶應義塾大学理工学部
-
岩村 朋
慶應義塾大学理工学部:理化学研究所超分子科学研究室
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