VLSI CADレイアウトデータからの逐次回路抽出によるEB自動故障追跡システム
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概要
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近年、VLSIの故障診断において、トランジスタレベルの故障箇所指摘ならびに故障診断に必要なCADデータの準備時間の短縮が求められている。これに対して、我々は、これまでにCADレイアウトデータから逐次的に回路抽出を行いながら、EBテストシステムを用いて階層的に故障信号を追跡し、トランジスタレベルで故障箇所を指摘する手法を提案して来た。今回、これらの手法を統合し、VLSIの自動故障追跡システムの構築を行なったので報告する。
- 1997-08-13