散乱電界の導体球と実機の相関
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概要
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現在、放射イミュニティ試験装置として、電波暗室・GTEMセル・TEMセル等が用いられている。これまでに、これら試験装置間の試験結果の相関性を評価する方法として、導体球の散乱界解析を用いた方法を検討してきた。この方法はまた、供試機器を導体球でモデル化し、各試験装置で試験可能な供試機器のサイズを求めることができる。しかし、現実には球形の供試機器は存在しないので、導体球によるモデル化がどの程度実際の供試機器を模擬しているか明らかにする必要がある。ここでは、導体球の散乱電界理論値と実際の機器の散乱電界を、機器のサイズをパラメータとして比較し、両者の相関について報告している。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1994-09-26
著者
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