平板材料の散乱指向性測定のための面上界分布検出
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概要
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先に、低反射材料の散乱指向性測定法として平面近傍界測定法に基づき、試料前面約1波長での散乱界を測定し、これより、試料面上の界分布を求め、これを用いて遠方散乱指向性を求める方法を提案した。前回、最小2乗法を用いる方法を報告した。本論では、これを一歩進めて試料面近傍の効果を考慮した界分布検出を試みたので報告する。
- 一般社団法人電子情報通信学会の論文
- 1996-09-18
著者
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