含浸形陰極の劣化機構解析法
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概要
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含浸形陰極の劣化要因を解明するため,長期間使用した含浸形陰極の断面分析を新しく考案した積算法により行った.その結果,劣化の原因となっているバリウム(Ba)供給速度の低下は,含浸材の消耗に伴い含浸材と基板の反応箇所が表面から遠ざかることにより生じており,経時特性はBaのKnudsen流により律速されていることを明らかにした.また,陰極寿命を比較検討するために,陽極にすりばち状の穴を設けた新しい2極管を考案し,進行波管(TWT)に陰極を組み込んだ場合と同様の経時変化を経済的に測定できるようにした.この新2極管を用いて,含浸材の配合比が異なる場合にもこれまでに提案してきたΔT_<90>を用いた寿命推定方法を適用することができることを明らかにした.これらの結果から,衛星塔載用として実績のある含浸形陰極4品種のうちから最長寿命を有する品種を選択した結果についても述べた.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1994-12-25
著者
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