低コヒーレンス光干渉による屈折率と厚さ同時精密測定 : 複屈折の測定と群屈折率
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概要
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最近,我々は低コヒーレンス光干渉に基づく実用的な屈折率nと厚さt同時測定法を提案・実証した.これまでは光学的等方性媒質を対象としてきたが,本稿では,この測定法をそのまま複屈折測定に適用できることを示すと共に,波長分散に伴う群屈折率を導入して測定データの妥当性を論ずる.さらに,単一SLD(スーパルミネッセントダイオ-ド)光源を用いた位相屈折率と群屈折率の同時測定法を提案する.
- 1996-12-12
著者
-
春名 正光
大阪大学医学部保健学科
-
丸山 英樹
九州松下電器株式会社技術本部開発研究所
-
満山 照樹
大阪大学大学院工学研究科電子工学専攻
-
近江 雅人
大阪大学医学部保健学科
-
田尻 秀幸
大阪大学大学院工学研究科電子工学
-
丸山 英菜樹
九州松下電器(株)材料部品研究所
-
田尻 秀幸
大阪大学大学院工学研究科電子工学専攻
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