統計シミュレーションによるLSI要素技術の信頼度予測
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概要
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LSIチップを構成する要素技術の故障時間分布と、その中の最小時間で決まるチップの故障時間分布の関係を、故障時間を乱数とするシミュレーションで数値解析した。要素数が500個以上になると、チップ故障分布は要素故障分布の関数形によらないでワイブル分布で高精度に近似できることを確認した。ワイブル形状母数βを持つチップの故障時間は、要素数Nに対しN^<-1/β>の依存性を持って減少することを示した。要素故障分布が形状母数σを持つ対数正規の場合、チップ故障分布のワイブル形状母数βとの間にσβ=3.4の近似式が成り立つことを見いだし、解析的な考察結果と一致した。これらの結果より、要素数の少ない試料による信頼性試験からLSIの信頼度を予測する方法を提案する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1997-10-30