AFMフォースマッピング技術による有機薄膜の官能基識別 : フォースマッピング測定による官能基分布の評価
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概要
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我々はこれまで、原子間力顕微鏡(AFM)を用いた探針/試料間の局所的な相互作用力の測定により、LB法やセルフアセンブリ法によって形成される有機薄膜表面の官能基を対象として、官能基種の識別が可能であることを検証してきた。一方、官能基の空間的な分布については、試料表面上の一点一点で任意の力成分に対して力の大きさのマッピングを行うことにより、その分布を画像化することが可能となる。今回、このフォースマッピング技術を、表面に官能基をパターニングした試料、LB混合膜の相分離構造、および液晶配向膜の解析に適用した結果について紹介する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1998-10-23
著者
-
田中 国義
東芝リサーチコンサルティング
-
内藤 勝之
(株)東芝, 研究開発センター
-
源間 信弘
(株)東芝 研究開発センター
-
稗田 泰之
東芝研究開発センター
-
内藤 勝之
東芝研究開発センター
-
稗田 泰之
(株)東芝 研究開発センター
-
田中 国義
東芝研究開発センター
-
石野 隆
東芝研究開発センター 基礎研究所
-
源間 信弘
東芝研究開発センター 基礎研究所
-
内藤 勝之
(株)東芝 研究開発センター
-
内藤 勝之
東芝(株)研究開発センター材料デバイス研究所
-
内藤 勝之
(株)東芝研究開発センター
-
源間 信弘
東芝研究開発センター
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