接点開閉における接点表面状態の変化 : EPMAを用いた接点表面状態の評価

スポンサーリンク

概要

論文の詳細を見る
近年環境問題への関心が高まる中、Cdフリー接点材料は、これまでに種々開発されてきたが、現段階では接点材料の変更だけでAgCdO接点を代替することはできない。一方、接点の性能は、負荷開閉中の接点表面の状態と密接な関係がある。著者らは、この接点性能と接点表面状態の関係を明らかにすることを目的に、EPMAを用いて、AgCdO接点、AgSnO_2・In_2O_3系接点の表面状態の変化を観察した。その結果、開閉が進むと、Agは接点の種類に関わらず高濃度領域の比率が低下する傾向にあり、Cdは、ある程度低濃度領域の比率が下がった値で一定となり、Sn、Inについては、低濃度領域の比率が下がり、高濃度領域へシフトし続けるという興味深い挙動が確認できた。
社団法人電子情報通信学会の論文
2001-01-12

著者

関連論文

スポンサーリンク