STN-LCDのクロストークシミュレーション
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概要
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STN-LCDの表示均一性を低下させている要因にクロストークがある。クロストークの要因の多くは駆動波形歪みである。このような波形歪みは、液晶セルの静電容量や透明電極の面積抵抗などに深く関係しており、これらに体する設計指針の確率が求められている。今回、液晶セルの面積抵抗とクロストークの関係について、SPICEを用いたシミュレーションにより検討したので報告する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1995-03-27
著者
-
鈴木 公平
(株)東芝 材料・デバイス研究所
-
鈴木 公平
(株)東芝 ディスプレイ・部品材料社
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鈴木 公平
株式会社東芝
-
[モタイ] 友信
(株)東芝研究開発センター材料・デバイス研究所
-
平井 保功
(株)東芝 電子技術研究所
-
平井 保功
(株)東芝ディスプレイデバイス技術研究所
-
橋本 美由紀
(株)東芝ディスプレイデバイス技術研究所
-
庄子 雅人
(株)東芝ディスプレイデバイス技術研究所
-
[モタイ] 友信
(株)東芝研究開発センター
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