誘電体共振器を用いた高周波における金属透磁率の測定法
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概要
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移動体通信の基地局に用いられるハイパワーフィルタ(デュプレクサ)に対して、最近一層の小型化が要求されるようになった。フィルタの小型化に伴って入出力コネクタには、S型,N型に替わってSMAタイプが用いられるようになってきた。小型のSMAタイプでは導体部の電流密度が高くなり相互変調歪み(PIM)を発生する可能性が増す。Fe、Ni等の遷移金属に高周波の強い電流を流した場合には高い値のPIMを示すことが報告されており、その要因として金属の透磁率が関与していることがわかっている。従って、高周波で高電力のフィルタに用いるコネクタを構成する金属母材(めっきを含む)の透磁率を測定評価する必要がある。本稿では、Q_0が15000以上のTE_<01δ>モード誘電体共振器を用い、摂動法を用いて数種の金属について1GHz帯における透磁率を測定した結果を報告する。
- 1996-03-11
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