ホットキャリア効果による漏れキャリアのレーザ特性への影響
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概要
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ホットキャリア効果を取り入れた1次元デバイスシュミレーターで注入効率の光導波路層依存性を解析した。発振後活性層内でのキャリア温度の上昇による活性層のキャリア密度増加が注入効率を低下させる。活性層と光導波路層のバンド不連続が大きいと活性層でのキャリア温度は上昇し、小さい光導波路層のキャリア漏れが増加し注入効率をより低下させる。その結果注入効率に対し光導波路層のバンドギャップを最適化する必要があることがわかった。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1994-02-14
著者
-
雙田 晴久
(株)富士通研究所
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倉掛 博英
富士通研究所
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雙田 晴久
富士通研究所
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東 敏生
富士通研究所
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井上 忠夫
(株)富士通研究所
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井上 忠夫
富士通研究所
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窪田 晋一
富士通研究所
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窪田 晋一
(株)富士通研究所
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