BIST用パターンとしての2次元M系列のランダム性の検討

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概要

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故障検査のためのテストパターン集合は、少ないパターン数で高い故障検出率を得るためにランダムなパターンの集合であることが求められる。また、LSIのような多入力回路の検査では複数の入力線に同時にテスト入力を印加するため、テストパターンは2次元でなければならない。このような見地から、M系列を2次元に拡張した2次元M系列は、2次元テストパターンとして良好な性質を持つものと期待される。本研究は2次元M系列のランダム性を他の2種類のランダムテストパターンと統計的検定を行なうことによって比較し、ランダムテストパターンとして適当であることを示すことを目的としている。
社団法人電子情報通信学会の論文
1994-02-10

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