垂直記録オーバーライトシフト評価における再生ひずみの分離(信号処理及び一般)
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概要
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磁気記録においては媒体の初期磁化や記録された磁化の状態に応じて,それらの磁化領域から発生する磁界がヘッドに影響し記録磁化転移のシフトや再生波形のひずみを発生させる.垂直磁気記録方式では,磁化転移以外の部分全てから漏れ磁界が発生するため,記録磁化から発生する磁界の影響が大きい.そのために発生する大きなEasy-Hardシフトは垂直磁気記録方式による装置化の妨げになる可能性が懸念されている.本件では,垂直記録方式において観測されるEasy-Hardシフトの定量的な観測と,観測されるシフトの発生要因が記録転移点シフトと再生ひずみのいずれによるものかの切り分け測定を実施した.その結果,装置の使用条件において発生するEasy-Hardシフトは十分小さく,また観測されるシフト要因の大部分が再生ヘッドの特性変動に伴う再生ひずみであることを示した.
- 2004-12-03
著者
-
西田 靖孝
(株)日立製作所
-
田河 育也
(株)日立製作所研究開発本部
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田河 育也
(株)日立製作所研究開発本部ストレージ・テクノロジ研究センタ
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西田 靖孝
(株)日立製作所 研究開発本部 ストレージテクノロジー研究センタ
-
西田 周治
(株)日立製作所 研究開発本部 ストレージ・テクノロジ研究センタ
-
西田 周治
(株)日立製作所研究開発本部ストレージ・テクノロジ研究センタ
-
西田 周治
(株)日立製作所 ストレージ・テクノロジー研究センタ
-
田河 育也
(株)日立製作所中央研究所
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