ミリ波同軸励振空洞共振器法による誘電体平板の複素誘電率の温度依存性の測定
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概要
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ミリ波同軸励振空洞共振器法による低損失誘電体平板材料の温度依存性測定を提案する。本測定法は、モードマッチング法による厳密な解析にもとづき、縁端効果まで考慮した複素誘電率を高精度に測定可能である。また、直径1.2mmの同軸線路およびVコネクタを採用したミリ波同軸系温度依存性自動測定システムを構築し、高能率な測定が可能である。さらに、PTFE平板、Crythnex平板の複素誘電率の温度依存性を20-300Kの範囲で測定し、その有効性を実証した。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2000-10-31
著者
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