高品質SiCバルク単結晶の成長
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概要
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ワイドギャップ半導体として知られているSiCやGaNはパワーデバイスや高周波デバイスへの応用が期待されている。この基板としてSiCが注目されており、高品質なSiC基板の作製が望まれている。しかし、SiCバルク単結晶は通常2200〜2400℃という高い温度で昇華法を用いて作られるため、高品質なSiC基板の作製は難しいのが現状である。本研究では、結晶成長のプロセスを検討することにより、成長条件の最適化を図り、MPDが50cm^<-2>以下の2インチ6H-SiC基盤を作製した。この条件で再現性も確保され、量産化も可能となった。得られた基板について、結晶学的、電気的、光学的に評価を行ったので、これも併せて報告する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2000-10-13
著者
-
中山 浩二
(株)シクスオン
-
塩見 弘
(株)シクスオン
-
塩見 弘
シクスオン
-
西野 茂
京都工芸繊維大学工芸学部
-
西野 茂弘
京都工芸繊維大学・工芸
-
西野 茂弘
京都工芸繊維大学大学院電子情報工学専攻
-
西野 茂弘
京都工芸繊維大学
-
三柳 洋一
(株)シクスオン
-
高田 禎介
(株)シクスオン
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