μg及び1g条件下での三元混晶半導体の溶解実験
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概要
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GaSb/InSb/GaSbサンドイッチ状試料を用いてGaSbの溶解実験を行った。実験は中国回収衛星を用いたμg環境と地上1g環境下で行ない、固液界面形状や溶解距離について比較検討を行った。試料を温度プロファイルに沿って加熱、保温、冷却した後、その後断面観察や定量分析を行った。1g下においてはGaおよびInの融液の密度差に起因した自然対流が起こりGa濃度分布が生じた。結果として固液界面形状は重力方向に末広がりになった。これに対してμg下では対流は起こらず、固液界面形状は試料径方向に対してほば平行になった。また、数値解析を行った結果、実験結果と定性的に一致することがわかった。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1999-05-21
著者
-
木村 忠
静岡大
-
小澤 哲夫
静岡理工科大学
-
小松 秀樹
静岡大学電子工学研究所
-
小山 忠信
静大電研
-
宮澤 政文
静大工
-
熊川 征司
静大電研
-
早川 泰弘
静大電研
-
岡野 泰則
静大工
-
木村 忠
静岡大学電子工学研究所
-
小山 忠信
静岡大学電子工学研究所
-
小松 秀輝
静岡大
-
柴田 尚弘
静岡大学電子工学研究所
-
今石 宣之
九大機能研
-
平田 彰
早大理工
-
今石 宣之
九州大学
-
木村 忠
静岡大 電子工研
-
山口 十六夫
静岡大学
-
山口 十六夫
静大電研
-
柴田 尚弘
静大電研
-
木村 忠
静大電研
-
榎本 祥一
静大工
-
勝又 政光
静大工
-
阿部 悟
静大工
-
小松 秀樹
静大電研
-
山口 十六夫
静岡大 電子工研
-
Okano Y
Shizuoka Univ. Hamamatsu Jpn
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