二次電子の影響を考慮したコレクタ内ビーム軌道解析
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
二次電子の影響を考慮した電位低下コレクタのシミュレーションコードを開発した。このコードは電界の計算に有限要素法(FEM)を使用している。有限要素法は複雑な形状のモデル化に適しており、モデル化に制限のある有限差分法(FDM)より優れている。我々が以前開発した二次電子の影響を無視したコードと今回開発したコードのシミュレーション結果を実験結果と比較した。その結果、二次電子の影響を考慮することにより実験結果と良い一致が得られることが分かった。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1998-12-11