高精度ディレイ計算モデルにおけるクリティカルパストレースアルゴリズム
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概要
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高性能LSIの設計においては高精度な計算モデルを用いたディレイ検証ツールが極めて重要である。過去2、3年のあいだに発表されたディレイ検証アルゴリズムは、主に論理的に無意味なパス(false path)を削除することに主力を置いており、計算モデルとcritical pathの関係には着目していなかった。本論文では入力信号の立上り時間に依存した遅延時間計算モデル(RAMP TIME MODEL)を用いる場合に、従来のCRITICAL PATH TRACE ALGORITHMでは真のcritical pathを見逃してしまうことを解析的に証明し、その解決策としてshadow critical path trace algorithmを提案する。数種のベンチマークを用いた実験ではアルゴリズムの有効性を確認できた。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1993-11-19