基板形状及びICの電気特性が給電系放射ノイズに与える影響
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概要
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本報告では, プリント配線基盤の給電系から放射するノイズの発生メカニズムを解析し, さらにノイズ発生周波数の評価方法と簡単な解析モデルの提案を行った。給電系から放射するノイズには, 2つの原因 (1) 電源・グランドプレーン形状で共振する現象 (2) ICの電気的特性で共振する現象, がある。そして, これらの共振周波数は, ICの電源・グランドピンからのS_<11>特性を計測することで求めることが出来る。さらに, 簡単な形状の場合, 空洞共振モデルを用いれば共振周波数を算出できる。また, ICのリードフレームのインダクタンス, 半導体の自己容量, 出力の負荷から, ICの電気特性に起因する共振周波数を算出できる。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1999-07-29
著者
-
原 敦
(株)日立製作所生産技術研究所
-
笠井 真理子
(株)日立製作所システム開発研究所
-
横田 等
(株)日立製作所PC事業部
-
中村 篤
(株)日立製作所
-
横田 等
日立製作所インターネットプラットホーム事業部
-
中村 篤
技術研究組合 超先端電子技術開発機構(aset)
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原 敦
(株)日立製作所システム開発研究所
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