空洞共振器を用いた材料の複素誘電率温度依存性の評価と電磁界シミュレーション
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概要
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材料の複素誘電率は周波数, 温度, 材料の組成によって大きく変化することが知られている。特にマイクロ波デバイスの温度特性の評価や誘電加熱装置の開発や研究において、材料の高温までの複素誘電率の温度依存性を測定することは重要である。本研究では、TE_<102>モード空洞共振器を用いて、材料の複素誘電率温度依存性を測定すると共に、TLM法を用いた電磁界シミュレーションによって空洞共振器内の電磁界分布等の諸特性を計算した。有機高分子材料に関して複素誘電率温度依存性を測定した。測定材料に関して誘電損が温度と共に大きく変化することがわかった。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2000-09-15
著者
-
二川 佳央
国士舘大学大学院工学研究科
-
岡田 文明
国士舘大学工学研究科
-
田中 宏之
住友ベークライト(株)
-
田中 宏之
住友ベークライト生産技術研究所
-
中村 貴之
国士舘大学工学研究科
-
田中 宏之
住ベ生産技術研究所
-
二川 佳央
防衛大学校電気工学教室
-
中村 貴之
国士舘大学工学部
-
二川 佳央
国士舘大学工学研究科
-
二川 佳央
国士舘大学
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